Calculateur XRD en ligne

Objectif et intention utilisateur: Cet outil calcule les positions des pics XRD et des métriques de base à partir de paramètres fournis par l'utilisateur. Il vise les scientifiques des matériaux, les minéralogistes, les ingénieurs qualité et les étudiants qui analysent les structures cristallines, estiment les paramètres de réseau ou planifient des expériences de diffraction. Les utilisateurs comparent généralement les pics mesurés avec des modèles de référence simples, préparent des rapports pour des notes de recherche et des flux de travail de fabrication.

Logique centrale et caractéristiques: Entrées requises: longueur d'onde, plage 2θ et paramètres de réseau ou une liste d'espacements en d cibles. Caractéristiques optionnelles/avancées: modèles d'élargissement d'instrument, paramètres d'élargissement de pics, une bibliothèque de phases de base pour indications d'index, contraintes et export CSV/JSON. Capacités: convertir les paramètres de réseau en espacements en d et en positions 2θ via la loi de Bragg; basculer entre d-spacing et 2θ; générer des listes de pics prévues dans la plage; fournir des indices de phase simples non quantitatifs basés sur des correspondances d'espacement.

Entrées et sorties: Entrées couvrent longueur d'onde (Å), 2θ_min (°), 2θ_max (°), et soit paramètres de réseau (a,b,c,α,β,γ) soit une liste d'espacements en d cibles. Sorties incluent positions des pics (2θ, °), espacements en d correspondants (Å), indices éventuels et un jeu de données exportable. Validation impose longueur d'onde non négative, plage 2θ valide, espacements en d positifs et unités cohérentes. Si des entrées sont incomplètes, les calculs renvoient un rapport d'erreur structuré plutôt que des résultats partiels.

Algorithmes et calculs: L'outil applique la loi de Bragg (nλ = 2d sin θ) pour calculer d à partir des paramètres de réseau ou 2θ à partir d'espacements en d. Il interconvertit entre 2θ et d-spacing, génère des ensembles de pics dans la plage spécifiée et effectue un appariement basé sur une tolérance pour suggérer des indices candidats. Journalisation optionnelle; enregistre les hypothèses et les étapes de calcul pour traçabilité.

Erreurs et cas limites: Gère entrées manquantes, angles hors plage, paramètres de réseau non physiques et espacements négatifs ou nuls. Détecte incohérences d'unité et signale quand une plage demandée ne produit aucun pic valide. Bases de données externes de phases, si utilisées, peuvent introduire des retards ou résultats partiels.

Industrie/Région et Localisation: Utilise les unités SI; longueur d'onde en Å, angles en degrés, et les résultats exprimés en notation scientifique standard. Adapté à la collaboration internationale et intégration dans les flux de travail de la science des matériaux.

Hypothèses et exclusions: N'effectue pas d'affinement Rietveld, d'analyse de phase quantitative ou d'évaluation de texture. Supposons que les entrées sont préliminaires et se concentrent sur le calcul des positions de pics, les espacements de base et des conseils simples d'appariement.